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可程式高压加速老化箱/hast高压寿命试验机

发布时间:2020-06-17

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简要描述:

可程式高压加速老化箱/hast高压寿命试验机主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。

详细介绍

可程式高压加速老化箱/hast高压寿命试验机产品应用:PCT加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。

可程式高压加速老化箱/hast高压寿命试验机
材质: SUS304#不锈钢板/特殊防锈理冷轧板喷塑烤漆(电脑白色)
温度范围: 110℃-132℃℃
功率: 2600W
工作室尺寸: Φ300×450mm
电源: AC1¢3W220V±10% 2A 50/60HZ

高温高压蒸煮仪也是PCT高压加速老化试验箱试验箱适应于电子老化试验箱航天、磁性材料

、塑胶、五金材料,用多层线路板,IC、LCD、磁铁灯饰,照明制品等产品密封性能。

 2内箱尺寸:450x500mm圆形内箱,符合工业安全标准。

 3外箱尺寸:700x650x850mm(W,H,D)

 4内容量35kg。

三、高温高压蒸煮仪参数。

温度范围、100℃~132℃           

温度波动度、±0.5℃

温度偏差、±0.5℃

温度范围、100℃RH(饱和蒸汽)

温度波动度、±2.0℃RH

加压时间、40分钟,+132℃

循环方式、水蒸气对流循环

四、高温高压材质

外箱材质、高级不锈钢

外箱材质、sus316#不锈钢箱体保温材质、高级超细玻璃棉

单门园门、把手门锁,内箱压力愈大时,反压会使箱体更紧密更结合,使设备寿命更延长。

五、高温高压蒸煮仪安全保护。

1、蒸煮箱,可调式高温保护

2、压力限制保护

3、缺水报*保护

4、温度加热器保护

5、漏电漏水保护

6、手动泄压保护,自动泄压保护

7、切断电源保护

 


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