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宇航志达Y-HE-225L高低温试验箱

发布时间:2024-08-04

访问次数:1409

简要描述:

宇航志达Y-HE-225L高低温试验箱适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温交变环境下贮存、运输、使用时的适应性试验,是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备,特别适用于光纤、LCD、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温循环试验。

详细介绍

宇航志达Y-HE-225L高低温试验箱产品简介:冷热冲击试验箱主要用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车零部件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。

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宇航志达Y-HE-225L高低温试验箱技术参数:

1、型号:Y-HU-150G

2、内箱尺寸:宽400×高500×深400mm

3、外形尺寸:宽650×高1550×深1010mm

4、温度范围:低温-70℃~高温150℃

5、湿度范围:标准型(20%~98%RH)


6、温度解析度:0.01℃

7、温度波动度:≤±0.5℃

8、湿度波动度:≤±2.0%RH

9、温度均匀度:±2.0℃

10、湿度偏差:75%R.H以下±5.0%RH、75%R.H以上+2.0/-3.0%RH

11、升温速率:约1.0℃~3.0℃/min

12、降温速率:约0.8℃~1.3℃/min

13、电源要求:AC220V/50HZ


 


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