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宇航志达芯片研发老化恒温恒湿试验箱

发布时间:2023-05-29

访问次数:740

简要描述:

宇航志达芯片研发老化恒温恒湿试验箱适合电子、电器、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之又名高低温试验机,试验各种材料耐热、耐寒、耐干性能。适合电子、电器、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之

详细介绍

宇航志达芯片研发老化恒温恒湿试验箱构造美观,高效安全,用途广泛高低温试验箱是航空,汽车,家电,科研等领域的测试设备,用于测试和确定电工,电子及其他产品及材料进行高温,低温,或恒定试验的温度环境变化后的参数及性能。


宇航志达芯片研发老化恒温恒湿试验箱

技术参数:

1、型号:Y-HU-150G

2、内箱尺寸:宽400×高500×深400mm

3、外形尺寸:宽650×高1550×深1010mm

4、温度范围:低温-70℃~高温150℃

5、湿度范围:标准型(20%~98%RH)


6、温度解析度:0.01℃

7、温度波动度:≤±0.5℃

8、湿度波动度:≤±2.0%RH

9、温度均匀度:±2.0℃

10、湿度偏差:75%R.H以下±5.0%RH、75%R.H以上+2.0/-3.0%RH

11、升温速率:约1.0℃~3.0℃/min

12、降温速率:约0.8℃~1.3℃/min

13、电源要求:AC220V/50HZ



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 满足试验标准 

⒈ GB11158 高温试验箱技术条件

⒉ GB10589-89 低温试验箱技术条件

⒊ GB10592-89 高低温试验箱技术条件

⒋ GB/T10586-89 湿热试验箱技术条件

⒌ GB/T2423.1-2008 低温试验箱试验方法

⒍ GB/T2423.2-2008 高温试验箱试验方法

⒎ GB/T2423.3-2006 湿热试验箱试验方法

⒏ GB/T2423.4-2008 交变湿热试验方法

⒐ GB/T2423.22-2002 温度变化试验方法

⒑ IEC60068-2-1.1990 低温试验箱试验方法

⒒ IEC60068-2-2.1974 高温试验箱试验方法

⒓ GJB150.3 高温试验

⒔ GJB150.4 低温试验

⒕ GJB150.9 湿热试验



 


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