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半导体高低温冲击试验箱YH-CJ-150L冷热冲击

发布时间:2023-05-29

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简要描述:

半导体高低温冲击试验箱YH-CJ-150L冷热冲击适用于电子、电工产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验,也是筛选电子元器件初期故障的助手

详细介绍

半导体高低温冲击试验箱YH-CJ-150L冷热冲击

1. 产品外形美观、结构合理、工艺、选材考究,风冷式冷热冲击试验箱具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。

2. 设备分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采*之断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物*静止,应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的.

3. 采用采用的计测装置, 控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单, 学习容 易, 稳定可靠,中,英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。

4. 具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转,程度上实现自动化,减轻操作人员工作量,可在任意时间自动启动﹑停止工作运行;

5. 箱体左侧具一直径 50mm 之测试孔,可供外加电源负载配线测试部件。

6. 可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能,具备高低温试验机的

7. 可独力当作高温箱或低温箱使用,一机三用。

8. 具备全自动,高精密系统回路、任一机件动作,*有P.L.C锁定处理,全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高。

9. 科学的空气流通循环设计,使室内温度均匀,避免任何死角;完备的安全保护装置,避免了任何可能发生安全隐患,保证设备的长期可靠性。

半导体高低温冲击试验箱YH-CJ-150L冷热冲击

10. 可设定循环次数及除霜次数自动(手动) 除霜。

11. 出风口于回风口感知器检测控制,风门机构切换时间为10秒内完成,冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。

12. 运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。

13. 冷冻系统采用复叠高效低温回路系统设计,冷冻机组采用欧美*压缩机,并采用对臭氧系数为零的绿色环保(HFC)制冷剂R507,R23。

14. *安全保护功能:电源过载保护、漏电保护、控制回路过载、短路保护、压缩机保护、接地保护、超温保护、报警声讯提示等。

满足标准:

1、 GB/T2423.1-1989低温试验方法;
2、GB/T2423.2-1989高温试验方法;
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验;
4、GJB150.5-86温度冲击试验;
5、GJB360.7-87温度冲击试验;
6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。

 


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