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高低温试验箱电池测试 芯片老化实验箱

发布时间:2019-11-20

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简要描述:

高低温试验箱电池测试 芯片老化实验箱适用于工业及电子产品的性能可靠性试验,本试验具有较大的温度控制范围,性能指标均达到GB10592-93《高低温试验箱技术条件》,GB10586-93《湿热试验箱技术条件》,适用于GB2423-93《电工电子产品基本环境试验规程》中的《试验低温A:试验方法;试验高温B:试验方法》及恒定湿热试验,可有效的对产品进行高低温及湿热(恒定)试验。

详细介绍

高低温试验箱电池测试 芯片老化实验箱产品用途:交变高低温试验箱适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温环境下贮存、运输、使用时的适应性试验;是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备;特别适用于光纤、LED、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温、循环试验。

高低温试验箱电池测试 芯片老化实验箱

一.高低温箱设备性能
1-1内  尺  寸 400 *500 *400mm (W* H *D)
1-2外 尺 寸(约) 650 * 1500 *950mm ( W*H*D )
1-3温度范围 0、-20、-40、-60、-70℃~150 ℃ (气冷式)
1-4降温速率 20℃~-40 ℃ / 50  min (空载下)
1-5升温速率 0℃~+100 ℃ /30  min(空载下)
1-6温度稳定度 ±0.5℃
1-7温度偏差   ±2.0℃

产品特点
 原装韩国进口LCD显示可程式温度控制器或进口微电脑LED数字显示温度控制器。
 造型美观大方,并采用无反作用把手。操作简便。
 外箱采用SUS304#雾面线条处理不锈钢,内箱采用进口高级SUS#304镜面钢板
 观察窗采用高清晰度附发热导电膜多层中空钢化玻璃。
 温度范围:-20℃~150℃  -40℃~150℃ -70℃~150℃
波动/均匀度:≤±0.5℃/±2℃
升温时间:-20℃~150℃约35min-20℃~100℃约35min-20℃~100℃约60min
降温时间:T:20℃~-20℃约35minF:20℃~-40℃约55minS:20℃~-70℃约80min
控制器:原装韩国“TEM”M系列或日本:“OYO”P系列进口LCD显示触控制(按键式)温湿度控制器,单点及可程式控制
 分析度:±0.1℃
传感器:铂电阻PT100
加热系统:镍铬合金电加热器
 制冷系统:原装法国“泰康”牌压缩机、风冷式冷凝器、油分、电磁阀、干燥过滤器等
 循环系统:采用加长轴电机,配耐高低温之不锈钢多翼式风轮
 外箱材质:SUS#304雾面拉丝不锈钢板
 内箱材质:SUS#304镜面不锈钢板
 保温层:聚胺脂硬质发泡+玻璃纤维棉
 门框材质:双层耐高低温硅橡胶密封条
 标准配置:多层加热除霜附照明玻璃视窗1套、试品架2个、测试引线孔(50mm)1个
 全安保护:超温、电机过热、压缩机超压、过载、过电流保护
 电源电压:AC380V±10% 50±1Hz三相四线制
 使用环境温度:5℃∽+30℃≤85%R.H

良好的售后服务,让您省心省事

四. 高低温箱产品售后服务与保固
4-1.  保证书保固一年.
五. 新机达交贵厂随附资料
4-2.  操作说明书、维护手册.
4-3.  保证书、保养记录卡.
4-4.  人员操作使用训练.

 


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