摄像头试验高低温冲击试验箱/冷热温冲箱

产品简介：冷热冲击试验箱主要用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车零部件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。

技术参数

1. 温度范围：-20℃～200℃（A）、-40℃～200℃(B)、-60℃～200℃(C)；

2. 样品吊篮：（WDCJ-100）350×350×380、（WDCJ-300）520 ×520×580；

3. 吊篮承重：（WDCJ-100）15Kg、（WDCJ-300）18Kg；

4. 试验区：①温度波动度±0.5℃（温度恒定后），②温度偏差≤3℃；

5. 高低温区：温度波动度≤±2.0℃；

6. 升温速率：1.0～3.0℃/min；

7. 降温速度：0.7～1.0℃/min；

8. 温度转换时间：≤15s（样品从高温区到低温区或从低温区到高温区）；

9. 温度恢复时间：≤15min

10. 电源电压：AC380±10%V  50Hz

摄像头试验高低温冲击试验箱/冷热温冲箱

结构形式：试验箱采用整体式组合结构形式，既试验箱由位于上部的高温试验箱，位于下部的低温试验箱体、位于后部的制冷机组柜和位于左侧后板上的电器控制柜（系统）所组成。此方式箱体占地面积小、结构紧凑、外形美观，制冷机组置于独立的机组箱体内，以减少制冷机组运行时的震动、噪声对试验箱的影响，同时便于机组的安装和，电器控制面板置于试验箱的左侧板上以便于运行操作。

适用标准：

1、GB2423.1－89　试验A低温试验方法 　　

2、GB2423.2－89　试验B高温试验方法 　　

3、GB2423.22－89　试验N温度变化试验方法 　　

4、GJB150.3-86　高温试验 　　

5、GJB150.4－86　低温试验方法 　　

6、GJB150.5－86　温度冲击试验 　　

7、GB10589－89　低温试验箱技术条件 　　

8、GB11158－89　高温试验箱技术条件 　　

9、GB10592-89　高、低温试验箱技术条件

10、GB/T 18287-2000 锂电池测试标准