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首页-高压寿命加速老化箱|高温蒸煮试验仪

发布时间:2019-06-26

访问次数:141

简要描述:

首页-高压寿命加速老化箱|高温蒸煮试验仪主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。

详细介绍

首页-高压寿命加速老化箱|高温蒸煮试验仪产品应用:PCT加速老化试验箱主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。

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1.圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品。
2.实验开始前之真空动作可将原来箱内之空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新空气(partical<1micorn)。以确保箱内之纯净度。
3.临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示。
4.精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续200h。
5.箱内压力愈大时,设备会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延老化箱寿命。
塑料片pct高压加速老化箱使用条件:
温度:5℃~+28℃(24小时内平均温度≤28℃)
相对湿度:≤85%RH
气压:86kPa~106kPa
供电条件 三相四线+保护地线,电压范围:AC(380±38)V
频率允许波动范围:(50±0.5)Hz
保护地线接地电阻小于4Ω
主营产品:塑料片pct高压加速老化箱-高压加速老化试验箱-盐雾试验箱-高低温试验箱-高温恒温试验箱-紫外老化试验箱-氙灯老化试验箱-臭氧老化试验箱-恒温恒湿试验箱-换气式老化试验箱-砂尘试验箱-箱式淋雨试验箱-冷热冲击试验箱-振动试验台-霉菌培养箱-高温试验箱-低温试验箱-恒温试验箱-跌落试验台-三综合试验箱-二氧化硫腐蚀试验
塑料片pct高压加速老化箱产品用途:
塑料片pct高压加速老化箱()又称为高压加速老化试验箱,主要用于航空、航天、信息、电子等领域,确定仪器仪表、电工产品、材料、零部件、设备在低气压、高温、低温单项或同时作用下的环境适应性与可靠性试验,并或同时对试件通电进行电气性能参数的测量。
 

 


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