13412317138
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发布时间:2024-08-05
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简要描述:
电源管理芯片测试高低温热流仪是一台精密的高低温冲击气流仪,具有更广泛的温度范围-50℃到+225℃,提供了非常先进的温度转换测试能力。温度转换从-40℃到+125℃之间转换约10秒 ; 紧凑型及低噪音的设计,满足桌面式应用。设备是纯机械制冷,无需液氮或任何其他消耗性制冷剂。
电源管理芯片测试高低温热流仪主要技术参数
有效温度范围
-50 ºC 至 + 225 ºC
典型温度转换率
-40 ºC 至 + 125 ºC 约10秒
温控精度
± 1 ºC
显示精度
± 0.1 ºC
出气流量
3 ~ 10SCFM(1.4L/s ~ 4.7L/s); 选配:3~12SCFM(1.4L/S~5.6L /S)
系统操作
高清彩色触摸屏,7"TFT
系统语言
中文/英文
操作模式
手动模式/程序模式
控温模式
AIR控温模式;DUT控温模式;AIR和DUT温度同时反馈模式
温度控制
内部:TC;远程/外部:T, K; 选配:RTD
通讯接口
RS-232,LAN;可选:GPIB
制冷剂
环保型冷媒
升降控制
手动
支臂延伸
X:90 ~ 465mm;Y: 450mm; Z:360°
隔热罩尺寸
圆形:Φ70mm/Φ140mm;椭圆形:W70*L140*H60mm(提供各种尺寸定制)
主机尺寸
450mm * 620mm * 510mm(长*深*高)
噪音
≤ 52dBA
YH-RLS-40P高低温热流仪-测试标准
满足MIL-STD军美用标准 MIL-STD 750D-1051 温度循环
MIL-STD 202G-107G 热冲击 MIL-STD 810-501 高温
MIL-STD 810-502 低温 MIL-STD 810-503 温度冲击
MIL-STD 883-1010 温度循环 MIL-STD 883-1011 热冲击
·满足GJB 150中美用标准 GJB150.3A-2009 高温试验
GJB150.4A-2009 低温试验 GJB150.5A-2009 温度冲击试验
GJB128B-2021 1051 温度循环 GJB360B-2009 107 温度冲击试验
GJB360B-2009 108 高温寿命试验 GJB548C-2021 1010.1 温度循环
满足JEDEC测试要求JESD22-A104 温度循环 JESD22-A105 带载温度循环
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