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电源管理芯片测试高低温热流仪

发布时间:2023-11-27

访问次数:370

简要描述:

电源管理芯片测试高低温热流仪是一台精密的高低温冲击气流仪,具有更广泛的温度范围-50℃到+225℃,提供了非常先进的温度转换测试能力。温度转换从-40℃到+125℃之间转换约10秒 ; 紧凑型及低噪音的设计,满足桌面式应用。设备是纯机械制冷,无需液氮或任何其他消耗性制冷剂。

详细介绍

电源管理芯片测试高低温热流仪是一台精密的高低温冲击气流仪,具有更广泛的温度范围-50℃到+225℃,提供了非常先进的温度转换测试能力。温度转换从-40℃到+125℃之间转换约10秒 ; 紧凑型及低噪音的设计,满足桌面式应用。设备是纯机械制冷,无需液氮或任何其他消耗性制冷剂。

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电源管理芯片测试高低温热流仪主要技术参数

有效温度范围

-50 ºC 至 + 225 ºC

典型温度转换率

-40 ºC 至 + 125 ºC 约10秒

温控精度

± 1 ºC

显示精度

± 0.1 ºC

出气流量

3 ~ 10SCFM(1.4L/s ~ 4.7L/s); 选配:3~12SCFM(1.4L/S~5.6L /S)

系统操作

高清彩色触摸屏,7"TFT

系统语言

中文/英文

操作模式

手动模式/程序模式

控温模式

AIR控温模式;DUT控温模式;AIR和DUT温度同时反馈模式

温度控制

内部:TC;远程/外部:T, K; 选配:RTD

通讯接口

RS-232,LAN;可选:GPIB

制冷剂

环保型冷媒

升降控制

手动

支臂延伸

X:90 ~ 465mm;Y: 450mm; Z:360°

隔热罩尺寸

圆形:Φ70mm/Φ140mm;椭圆形:W70*L140*H60mm(提供各种尺寸定制)

主机尺寸

450mm * 620mm * 510mm(长*深*高)

噪音

≤ 52dBA







YH-RLS-40P高低温热流仪-测试标准

满足MIL-STD军美用标准       MIL-STD 750D-1051 温度循环

MIL-STD 202G-107G 热冲击      MIL-STD 810-501 高温

MIL-STD 810-502 低温           MIL-STD 810-503 温度冲击

MIL-STD 883-1010 温度循环      MIL-STD 883-1011 热冲击

·满足GJB 150中用标准        GJB150.3A-2009 高温试验

GJB150.4A-2009 低温试验         GJB150.5A-2009 温度冲击试验

GJB128B-2021 1051 温度循环      GJB360B-2009 107 温度冲击试验

GJB360B-2009 108 高温寿命试验    GJB548C-2021 1010.1 温度循环

满足JEDEC测试要求JESD22-A104   温度循环 JESD22-A105 带载温度循环










 


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