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芯片测试小型高低温试验箱恒温恒湿测试机

发布时间:2024-08-04

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简要描述:

芯片测试小型高低温试验箱恒温恒湿测试机适于仪器仪表,化工、生物,医药等产品进行高温,低温环境下的性能测试,筛选或考核试验,恒温恒湿测试箱是对产品研制过程中进行高低温环境测试或试验。

详细介绍
  芯片测试小型高低温试验箱恒温恒湿测试机适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温环境下贮存、运输、使用时的适应性试验;是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备;特别适用于光纤、LED、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温、循环试验。
 
 芯片测试小型高低温试验箱恒温恒湿测试机规格参数
  1.内部尺寸(W×H×D)50×60×50cm
  2.外部尺寸:(W×H×D)110×146×127cm
  3.温度范围:-20℃~+150℃
  4.湿度范围:20%~98%RH
  5.温度波动度:≤±0.5℃
  6.湿度波动度:≤ ±3.0%RH
  7.温度均匀度:≤±2.0℃
  8.湿度均匀度:≤ ±2.5%RH
  9.温度**度:0.01
  10.湿度**度:0.1
  11.升温速度:约5.2℃/分钟
  12.降温速度:约1.2℃/分钟
 
  高低温试验箱满足标准:
  GB/T2423.1~2《电工电子产品的基本环境试验规程试验。A:低温试验方法、试验B:高温试验方法》.
  执行与满足标准:
  1.GB/T10589-1989低温试验箱技术条件;
  2.GB/T10592-1989高低温试验箱技术条件;
  3.GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3;
  4.GB2423.1低温试验、试验A
  5.GB2423.2高温试验、试验B. GB/T2423.34-2005高、低、温度组合循环试验。
<strong><strong>可编程高低温箱</strong></strong>

 


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