技术文章

当前位置:主页 > 技术文章 > 宇航志达高低温冲击试验箱与高低温冲击热流仪区别
宇航志达高低温冲击试验箱与高低温冲击热流仪区别
更新时间:2026-03-30 点击次数:54

宇航志达来给您说道说道高低温冲击试验箱与高低温冲击热流仪区别

高低温气流冲击仪(也称热流仪)是一款用于芯片、PCB、光模块等电子元器件可靠性测试的精密设备。它的核心优势在于能喷射高速气流,对单个元件实现每秒超过10度的极速温度冲击,效率远超传统试验箱。

核心参数与性能

639102303977770511368.jpg

不同型号的主要差异在温度范围、气流流量和转换速度上,以下是行业主流的技术指标汇总:

· 温度范围:通常为 -70℃ 至 +225℃(部分型号可扩展至 -90℃ 至 +250℃)。

· 转换速度:从 -55℃ 升至 +125℃ 仅需约 10秒,稳定时间约2秒。

· 控温精度:控制精度可达 ±1℃,显示精度 0.1℃。

· 气流流量:常规为 4 ~ 18 SCFM,部分大流量型号可达 20 SCFM 以上。

· 气源要求:需使用洁净压缩空气或 99.5%以上纯度的氮气,并严格管控露点和含油量。

工作原理与核心优势

它通过自复叠制冷和镍铬丝加热产生气流,利用特制隔热罩在元件局部形成密闭温场,从而实现精准控温。

· 速度:10秒内完成高低温切换,大幅缩短测试周期。

· 局部控温:可针对电路板上的单个IC芯片单独测试,不影响周边器件。

· 免维护:设计上支持连续运转且无需除霜,提升效率。

应用领域

该设备主要用于产品研发阶段的特性分析、失效分析和质量检测中的温度循环/冲击测试,具体涵盖:

· 半导体:Flash、EMMC、FPGA、IGBT等。

· 光通信:SFP光模块、收发器。

· 电子与航天:PCB电路板、航空航天用电子元器件。

选购时建议重点关注温度范围、冲击速率和气流流量。


你是主要用于光模块测试,还是单颗芯片的失效分析?不同场景对气流罩和温度均匀性的要求差异很大,告诉我具体需求,我帮你确认更合适的参数配置。


联系方式

邮件:739320289@qq.com
地址:东莞市东坑镇俊达西路126号
微信扫描关注我们:
在线客服 联系方式 二维码

服务热线

0769-83886585

扫一扫,关注我们